瑞典Gasporox全新一代激光顶空残氧仪测量医药包装内残氧及真空度踏浪而来
残氧分析仪制药行业通常采用N2作为保护气来保护氧敏感的产品免受氧化的影响,为了达到预期的保护效果,往往需要控制残氧浓度。常见的残氧分析仪运用的测试方法通常包括电化学法、氧化锆法、荧光衰减法、激光法等。 产品:SADP露点仪|在线露点仪| 肖氏露点传感器|肖氏露点仪|顶空分析仪|药品残氧仪|压缩空气露点仪|Mocon透氧仪|膜康透湿仪|PBI顶空分析仪|露点仪品牌|露点仪价格|露点仪批发|Hitech氧气分析仪|Hitech热导气体分析仪|Hitech氢气分析仪|哈奇便携式氧分析仪|Hitech微量氧分析仪|恩特龙氧分析仪|Neutronics氧分析仪CMC微量水分析仪总代理|露点仪厂家|代表处|分公司|子公司|办事处|总代理
电化学法是基于电化学传感器原理对残氧进行测定,测量时将针头刺入包装,抽取样气进行分析。该方法的成本比较低,操作简便。适用于制药QC部门抽检测试。
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氧化锆法是基于氧化锆传感器原理对残氧进行测定,测量时也需要将针头刺入包装,抽取样气进行分析,氧化锆传感器的寿命较长,适用于在线残氧监测,减少传感器的替换频率。氧化锆传感器相比电化学传感器的精度要高,*小分辨率达ppm(图1),电化学传感器的*小分辨率为0.01%(图2)。因此,氧化锆法更适用于对精度要求高的应用,比如N2纯度验证中测试残氧,通常要做到ppm浓度级别。另外,有的企业的内控标准很严格,比如内控标准为残氧必须要低于1%,那么这种情况下,采用氧化锆法比较合适。
荧光衰减法是基于荧光衰减的原理测定顶空的氧分压,并将氧分压转换为氧气体积分数。该方法的残氧分析仪有2种测试模式:
1、将荧光贴片吸附在容器内壁,将荧光探头放在容器外侧对准荧光贴片进行照射,从而获得所需的氧浓度。这种测试模式由于需要将荧光贴片放置到容器内部,更适合于留样管理,即针对同一个包装容器进行多次反复测试,可以随着时间跟踪容器内的残氧变化情况。
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2、将荧光贴片内置到针头里面,采用针头刺入包装测试,这种测试模式和电化学或氧化锆法比较类似,都需要将针头刺入包装进行测试,但是该方法相比电化学或氧化锆法,不需要抽取氧气进行分析,也就是说,该方法具有零采样量的优势,这种原理尤其适用于具有负压的容器,如冻干粉针西林瓶。因为在负压下,电化学或氧化锆法的泵抽气时会有困难。此外,该原理也适用于小顶空(顶空<2mL)的容器,因为小顶空容器的顶空体积比较少,不足以达到电化学或氧化锆法的*小采样量要求。如果采用电化学或氧化锆法测试,数据可能会有一定偏差。
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激光法是测量残氧的所有技术中相对比较先进的技术,它和荧光衰减法类似,也是基于光学的原理,但是又有不同的地方,它无需荧光贴片,只需在容器的一侧发射光,穿过容器顶空后在容器的另一侧对光的信号进行接收。在激光穿透容器顶空时,顶空部分的氧会吸收激光的能量,激光吸收量和氧浓度成正比。由于激光法无需荧光贴片,也不需要采用针头刺入包装,实现了真正的’无损’测试,因此,该方法备受很多优异药企的青睐。激光法除了能测量顶空残氧,也可以测量顶空的真空度,特别适用于冻干粉针的真空度分析。通常激光法测残氧需要将波长调节到760nm,在该波长下,氧分子对激光有*大的吸收值。同理,如果将波长调节到1400nm,在该波长下,水汽分子对激光有*大的吸收值,吸收峰的峰高(振幅)和水汽含量成正比,而吸收峰的宽度和顶空压力(或真空度)成正比(图5)。目前激光法测真空度是已知的***能无损测真空度的***技术。
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